Application of secondary neutral mass spectrometry in the investigation of doped perovskites

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

application of brand personality scale in automobile industry: the study of samand’s brand personality dimensions

این تحقیق شخصیت برند سمند را در ایران با استفاده از مدل پنج بعدی آکر (1997) بعنوان یک چهارچوب بطور توصیفی سنجیده است. بنابر این چهارچوب که دراصل در 42 جزء (42 ویزگی شخصیتی) ودر پنج بعد شخصیتی طراحی شده بود ودر کشورها وصنایع مختلف آزموده شده بود, پرسنامه به زبان فارسی ترجمه شده و با استفاده از روشهای ترجمه معکوس و مصاحبه عمیق با 12 متخصص ایرانی به 38 جزء کاهش یافت. و نظرسنجی ای در پنج نمایندگی ا...

15 صفحه اول

the role of application of dynamic assessment approach in improvement of iranian efl writing performance at different language proficiency levels

the present study sought to investigate the role of dynamic assessment (da) in improvement of iranian efl writing performance at different language proficiency levels. to this end, after conducting the quick placement test, 60 iranian efl learners were assigned to two groups with different language proficiency levels. in both groups each participant wrote two compositions, one before and one af...

Application of Secondary Ion Mass Spectrometry in Studies of Niobium Segregation in Niobium-Doped Titanium Dioxide

Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a powerful technique in the study of materials that demonstrate compositional changes as a function of depth from the surface. This is due to the high chemical sensitivity of SIMS (sensitive to ppb) and potential for high depth resolution. However, as a semi-quantitative technique, the application of SIMS to quantitative studies can be problematic witho...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Vacuum

سال: 2009

ISSN: 0042-207X

DOI: 10.1016/j.vacuum.2009.04.031